• История
  • Особенности
  • Аксессуары
  • Применение
  • Лотерея
  • Контакты
 
 
Мой SPECORD®
  • Кюветы и кюветодержатели
  • Устройства смены кювет
  • Определение коэффициента отражения, рассеяния и пропускания
  • Устройства автоматической подачи проб
  • Волоконно-оптическая связь и погружные зонды
  • Проточные микрокюветы
  • Тест-системы на растворение
  • Печатать |
  • Языки
    • Русский
    • Deutsch
    • English
    • Español
    • Français

Приставки для определения коэффициента отражения, рассеяния и пропускания

Приборы серии SPECORD® позволяют определять такие оптические свойства как коэффициент преломления (рефрактометрия), пропускания, а также показатели цветности, белизны, мутности, матовости, блеска, гладкости при использовании двух видов насадок: для  определения абсолютного коэффициента отражения WV с фиксированным углом отражения и с изменяемым углом преломления света.

Интегрирующие сферы используются для измерения общей интегральной отражательной способности различных поверхностей, для цветовых измерений и флуоресцентной спектроскопии.

Сканирующая приставка позволяет анализировать свойства поверхности твёрдых образцов. Для больших неоднородных поверхностей при анализе крупных образцов возможно получение локально-разрешённых спектров.

 

 Absolute reflectance attachment

Приставка для определения абсолютного коэффициента отражения

Для исследования плоских поверхностей и слоёв с  V-W – конфигурацией луча

 11°- 60° variable angle reflectance attachment

Приставки с переменным углом отражения, 11°- 60°

Для исследования свойств твёрдых поверхностей, плёнок и граничных слоёв

 Br_SPEC_PLUS_Page_16_Pic_03

Приставка для определения диффузного отражения с интегрированной сферой

Для определения коэффициента пропускания и диффузного отражения жидких, твёрдых проб и порошков. Внутренний диаметр 75 мм

Holder for solid samples

Держатель для твёрдых проб

Для закрепления твёрдых проб в виде плёнок или таблеток

Scan-Einsatz für Feststoffe

Сканирующая приставка для анализа твёрдых проб

Для определения пространственного распределения абсорбции по всей поверхности твёрдого образца

 
Analytik Jena AG | Contact | Imprint | Sitemap